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X射线荧光光谱仪

作者：更新时间：2013-09-06

仪器型号Axios

生产厂家荷兰PANalytical

主要技术指标

综合稳定性: 优于0.04%

角度定位精度：±0.0001º

元素分析范围：8O-92U

定量误差： <0.3%

主要应用领域用于各类材料中元素的定性和定量分析，也可用于测量镀膜厚度及镀膜成份分析。具有分析浓度范围宽，对样品无破坏性，分析速度快，分析精度高，应用领域宽等特点。另外，该仪器还具有无标定量分析功能。